发明授权
- 专利标题： 一种芯片测试装置
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申请号： CN201811099670.8申请日： 2018-09-20
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公开(公告)号： CN109031102B公开(公告)日： 2021-03-30
- 发明人: 夏俊生 , 李寿胜 , 侯育增 , 尤广为 , 李波 , 李文才
- 申请人： 北方电子研究院安徽有限公司
- 申请人地址： 安徽省蚌埠市经济开发区汤和路2016号
- 专利权人： 北方电子研究院安徽有限公司
- 当前专利权人： 北方电子研究院安徽有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省蚌埠市经济开发区汤和路2016号
- 代理机构： 安徽省蚌埠博源专利商标事务所
- 代理商 杨晋弘
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R1/04
摘要：
本发明提供一种芯片测试装置，其特征在于：它包括基板（1），在基板（1）上设有一组连接槽（2），在基板（1）上还设有接口焊盘（3）；设置转接板（4），在转接板（4）下表面设有与连接槽（2）对应配合的插块（7），在转接板上表面设有芯片定位槽（5），在定位槽（5）内设有一组测试凸块（6）。本发明具有结构简单，制造成本低廉，使用方便，芯片PAD区连接电阻低，检测时不会对芯片造成损伤等优点。
公开/授权文献
- CN109031102A 一种芯片测试装置 公开/授权日：2018-12-18
