- 专利标题: 球形外壳缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质
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申请号: CN201810626398.8申请日: 2018-06-13
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公开(公告)号: CN109142366B公开(公告)日: 2021-01-01
- 发明人: 孙高磊 , 吴丰礼 , 杨双保 , 李相前 , 张文刚 , 梅能华
- 申请人: 广东拓斯达科技股份有限公司
- 申请人地址: 广东省东莞市大岭山镇大塘朗村长塘路3号
- 专利权人: 广东拓斯达科技股份有限公司
- 当前专利权人: 广东拓斯达科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省东莞市大岭山镇大塘朗村长塘路3号
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 胡海国; 赵爱蓉
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88
摘要:
本发明公开了一种球形外壳缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。球形外壳缺陷检测方法包括以下步骤:获取球形外壳图像,并对球形外壳图像进行预处理,得到灰度图像;基于灰度图像,提取检测区域;对灰度图像进行中值滤波处理,将经过中值滤波处理后的灰度图像与原灰度图像进行差异对比,得到差异特征图像;提取差异特征图像中的缺陷区域;检测缺陷区域是否为有效缺陷区域;若缺陷区域为有效缺陷区域,则检测缺陷区域是否属于需要的检测区域;若所述缺陷区域属于需要的检测区域,则基于缺陷区域对球形外壳图像对应的球形外壳进行缺陷标识。通过本发明,实现了自动对球形外壳的品质进行检测,提高了检测效率以及准确度。
公开/授权文献
- CN109142366A 球形外壳缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 公开/授权日:2019-01-04