发明公开
- 专利标题: 成膜方法、存储介质和成膜系统
- 专利标题(英): FILM FORMING METHOD, STORAGE MEDIUM, AND FILM FORMING SYSTEM
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申请号: CN201810628226.4申请日: 2018-06-19
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公开(公告)号: CN109148270A公开(公告)日: 2019-01-04
- 发明人: 吉原健太郎 , 吉田勇一 , 柴田直树 , 吉原孝介
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳; 徐飞跃
- 优先权: 2017-119627 20170619 JP
- 主分类号: H01L21/027
- IPC分类号: H01L21/027 ; H01L21/67 ; G03F7/16
摘要:
本发明提供一种在通过规定图案使表面形成有凹凸的基板上形成涂敷膜的成膜方法和成膜系统,该成膜方法是在通过规定图案使表面形成有凹凸的晶片(W)上涂敷抗蚀液,形成抗蚀膜的方法,其包括:在晶片的表面上涂敷涂敷液,形成表面上的抗蚀膜的凹凸的深度(H2)为规定值以下的比抗蚀膜(R)的目标膜厚厚的抗蚀膜(R)即厚膜(R′)的步骤;和除去厚膜(R′)的表面,形成目标膜厚的抗蚀膜(R)的步骤。由此,能够形成膜厚的面内均匀性高的涂敷膜。
公开/授权文献
- CN109148270B 成膜方法、存储介质和成膜系统 公开/授权日:2023-11-03
IPC分类: