- 专利标题: 一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法
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申请号: CN201811222704.8申请日: 2018-10-19
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公开(公告)号: CN109211796B公开(公告)日: 2020-11-27
- 发明人: 夏新林 , 孙创 , 柴永浩 , 张顺德
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 岳泉清
- 主分类号: G01N21/17
- IPC分类号: G01N21/17 ; G01N21/25
摘要:
一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法,涉及一种测量固体材料光谱发射率的方法。本发明是要解决现有的测量材料光谱发射率的方法需要设置参考黑体,且高温下试件温度不均匀、误差大,光路系统复杂的技术问题。本发明将样品放入高温炉中,启动高温炉和加热片均加热至温度为T0,测得辐射能量φλ0;保持高温炉的加热温度为T0,将加热片的温度升高至T1,测得辐射能量φλ1;保持加热片的加热温度为T1,同时将高温炉的温度升高至T1,测得辐射能量φλ2,光谱发射率本发明不必设置参考黑体,试件温度均匀、误差小、没有复杂的光路系统,实现了1000K~2000K高温条件下固体材料连续光谱发射率的精确测量。
公开/授权文献
- CN109211796A 一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法 公开/授权日:2019-01-15