芯片子模组与凸台的匹配方法及压接型IGBT器件的封装方法
摘要:
本发明公开了一种芯片子模组与凸台的匹配方法及压接型IGBT器件的封装方法,其中芯片子模组与凸台的匹配方法,通过将芯片子模组的高度偏差进行分组,然后将分组后的芯片子模组的高度偏差分别与随机生成的待匹配凸台的高度偏差进行叠加,计算待匹配凸台的整体数量匹配偏差值,然后与第二预设阈值进行比较,并对待匹配凸台的差值进行补偿直到整体数量匹配偏差小于第二预设阈值,进而实现芯片子模组与待匹配凸台一一对应的目的。本发明可以实现对批量的芯片子模组与待匹配凸台的快速匹配,即提高了匹配效率,且可以使得整体匹配误差较小,通过该匹配方式有利于压接型IGBT器件的封装,进而保证了压接型IGBT器件具有良好的电气特性。
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