本发明公开了一种高场强下聚合物薄膜电阻率的测量方法。该方法用高精度直流电压源通过保护电阻给聚合物薄膜提供电压，然后用静电计测试回路电流。测量聚合物薄膜的厚度和电极面积，采集流过聚合物薄膜的电流，并用电压和薄膜电极面积的乘积除以电流和薄膜厚度的乘积，即可得到聚合物薄膜的电阻率。本发明还提供实现上述方法的装置：主要包括高精度直流电压源、保护电阻、夹具、屏蔽环、恒温恒湿箱和静电计。本发明试验装置简单、测量方法便捷、可操作性强，对样品尺寸要求低。