- 专利标题: 基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法
-
申请号: CN201811573081.9申请日: 2018-12-21
-
公开(公告)号: CN109490280B公开(公告)日: 2020-02-07
- 发明人: 张血琴 , 高润明 , 郭裕钧 , 吴广宁 , 刘凯 , 李院生 , 石超群 , 康永强 , 张广全 , 刘毅杰
- 申请人: 西南交通大学
- 申请人地址: 四川省成都市二环路北一段
- 专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市二环路北一段
- 代理机构: 成都正华专利代理事务所
- 代理商 陈选中
- 主分类号: G01N21/71
- IPC分类号: G01N21/71
摘要:
本发明公开了一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法,其包括以下步骤:S1、获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据;S2、对等离子体光谱数据进行预处理;S3、获取绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型;S4、获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱并进行预处理;S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据,得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度,完成绝缘子金具的腐蚀检测。该方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测,相对于传统检测方法,实现了在线检测,检测流程简单,结果可靠,大大简化了检测过程。
公开/授权文献
- CN109490280A 基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法 公开/授权日:2019-03-19