公开(公告)号：CN109765192B

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN201910071649.5

申请日：2019-01-25

申请人： 西南交通大学

发明人： 张血琴 ,  马欢 ,  吴广宁 ,  郭裕钧 ,  李春茂 ,  张晓青 ,  石超群 ,  康永强 ,  邱彦 ,  李院生

IPC分类号： G01N21/31

摘要： 一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法。它先利用高光谱成像仪拍摄已知不同表面含水量的绝缘子表面得到对应的高光谱图像，对高光谱图像进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到表面含水量Si的高光谱谱线Xi，进而得到含水量BP神经网络预测模型；然后拍摄得到待测绝缘子的高光谱图像，进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到待测绝缘子的高光谱谱线X0，将待测绝缘子的高光谱谱线X0输入预测模型，即可得到待测绝缘子的表面含水量。该方法能在带电情况下，对现场绝缘子进行非接触实时检测，其操作简单、易于实现；能方便地为绝缘子的防潮抗湿设计、制造和维护，提供可靠、准确的测试依据。

公开(公告)号：CN109490280B

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201811573081.9

申请日：2018-12-21

申请人： 西南交通大学

发明人： 张血琴 ,  高润明 ,  郭裕钧 ,  吴广宁 ,  刘凯 ,  李院生 ,  石超群 ,  康永强 ,  张广全 ,  刘毅杰

IPC分类号： G01N21/71

摘要： 本发明公开了一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其包括以下步骤：S1、获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对等离子体光谱数据进行预处理；S3、获取绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱并进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。该方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测，相对于传统检测方法，实现了在线检测，检测流程简单，结果可靠，大大简化了检测过程。

公开(公告)号：CN109765192A

公开(公告)日：2019-05-17

申请号：CN201910071649.5

申请日：2019-01-25

申请人： 西南交通大学

发明人： 张血琴 ,  马欢 ,  吴广宁 ,  郭裕钧 ,  李春茂 ,  张晓青 ,  石超群 ,  康永强 ,  邱彦 ,  李院生

IPC分类号： G01N21/31

摘要： 一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法。它先利用高光谱成像仪拍摄已知不同表面含水量的绝缘子表面得到对应的高光谱图像，对高光谱图像进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到表面含水量Si的高光谱谱线Xi，进而得到含水量BP神经网络预测模型；然后拍摄得到待测绝缘子的高光谱图像，进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到待测绝缘子的高光谱谱线X0，将待测绝缘子的高光谱谱线X0输入预测模型，即可得到待测绝缘子的表面含水量。该方法能在带电情况下，对现场绝缘子进行非接触实时检测，其操作简单、易于实现；能方便地为绝缘子的防潮抗湿设计、制造和维护，提供可靠、准确的测试依据。

公开(公告)号：CN109490280A

公开(公告)日：2019-03-19

申请号：CN201811573081.9

申请日：2018-12-21

申请人： 西南交通大学

发明人： 张血琴 ,  高润明 ,  郭裕钧 ,  吴广宁 ,  刘凯 ,  李院生 ,  石超群 ,  康永强 ,  张广全 ,  刘毅杰

IPC分类号： G01N21/71

摘要： 本发明公开了一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其包括以下步骤：S1、获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对等离子体光谱数据进行预处理；S3、获取绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱并进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。该方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测，相对于传统检测方法，实现了在线检测，检测流程简单，结果可靠，大大简化了检测过程。