- 专利标题: 数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质
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申请号: CN201811362805.5申请日: 2018-11-15
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公开(公告)号: CN109531262B公开(公告)日: 2020-09-11
- 发明人: 徐辉 , 肖俊杰
- 申请人: 深圳创源航天科技有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市光明新区公明街道富豪花园G区二栋二楼C区201室
- 专利权人: 深圳创源航天科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳创源航天科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市光明新区公明街道富豪花园G区二栋二楼C区201室
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 胡海国; 邵柱
- 主分类号: B23Q15/22
- IPC分类号: B23Q15/22 ; B23Q17/22
摘要:
本发明公开一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质,所述数控机床接触反馈式自动测量方法包括以下步骤:获取测量机构的进给路径;根据所述进给路径,控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接,以分别多次导通接触反馈电路;接收所述接触反馈电路产生的多个电信号,并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息;根据多个所述位置坐标信息,确定用于刀具找正的测量信息。本发明提供的技术方案中,通过测量触头与工件的接触即可导通接触反馈电路,从而自动获取对应的电信号以及位置坐标信息,根据多个所述位置坐标信息可自动计算出用于刀具找正的测量信息,无需人工进行繁琐计算,具有操作方便、成本低廉的优点。
公开/授权文献
- CN109531262A 数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质 公开/授权日:2019-03-29