数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质
摘要:
本发明公开一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质,所述数控机床接触反馈式自动测量方法包括以下步骤:获取测量机构的进给路径;根据所述进给路径,控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接,以分别多次导通接触反馈电路;接收所述接触反馈电路产生的多个电信号,并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息;根据多个所述位置坐标信息,确定用于刀具找正的测量信息。本发明提供的技术方案中,通过测量触头与工件的接触即可导通接触反馈电路,从而自动获取对应的电信号以及位置坐标信息,根据多个所述位置坐标信息可自动计算出用于刀具找正的测量信息,无需人工进行繁琐计算,具有操作方便、成本低廉的优点。
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