发明公开
- 专利标题: 基片处理方法、基片处理装置和存储介质
- 专利标题(英): Substrate processing method, substrate processing apparatus, and recording medium
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申请号: CN201811119294.4申请日: 2018-09-25
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公开(公告)号: CN109560017A公开(公告)日: 2019-04-02
- 发明人: 甲斐亚希子 , 田中公一朗 , 一之宫博 , 福田昌弘
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 2017-183823 2017.09.25 JP
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/02
摘要:
本发明提供一种能够可靠地向基片的表面供给清洗液并且抑制清洗液飞散地除去处理液的基片处理方法等。在对旋转的基片(W)进行了液处理之后,当供给清洗液以除去处理液时,在排出位置移动步骤中,使清洗液喷嘴(421)和气体喷嘴(411)从基片的中央部侧向周缘部侧移动,上述清洗液喷嘴(421)用于向基片(W)的旋转方向的下游侧对基片(W)的表面倾斜地排出清洗液,上述气体喷嘴(411)用于向清洗液的着液位置(R)的靠基片(W)的中央部侧的相邻的位置排出气体。此时,使基片(W)的转速变化,以使得着液位置(R)在周缘部侧的第二区域移动的期间中的转速小于着液位置(R)在中央部侧的第一区域移动的期间中的最大转速。
公开/授权文献
- CN109560017B 基片处理方法、基片处理装置和存储介质 公开/授权日:2024-02-20
IPC分类: