- 专利标题: 基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法
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申请号: CN201910075887.3申请日: 2019-01-25
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公开(公告)号: CN109632718B公开(公告)日: 2021-05-04
- 发明人: 齐宏 , 赵方舟 , 任亚涛 , 阮立明 , 赵春晖
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 刘冰
- 主分类号: G01N21/47
- IPC分类号: G01N21/47 ; G01N21/59
摘要:
基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中,利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括:利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息,通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程,初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像,并作为时域模型的初始的光学参数场,通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程,得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。
公开/授权文献
- CN109632718A 基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法 公开/授权日:2019-04-16