- 专利标题: 一种硅基异质集成4H-SiC外延薄膜结构的制备方法
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申请号: CN201811347796.2申请日: 2018-11-13
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公开(公告)号: CN109678106B公开(公告)日: 2020-10-30
- 发明人: 欧欣 , 伊艾伦 , 游天桂 , 黄凯 , 王曦
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 上海智信专利代理有限公司
- 代理商 邓琪; 宋丽荣
- 主分类号: B81C3/00
- IPC分类号: B81C3/00
摘要:
本发明涉及一种硅基异质集成4H‑SiC外延薄膜结构的制备方法,包括提供碳化硅单晶晶片,通过氢离子注入在碳化硅单晶晶片中形成注入缺陷层并提供碳化硅单晶薄膜;在碳化硅单晶晶片或碳化硅单晶薄膜上外延生长4H‑SiC单晶薄膜;将所述4H‑SiC单晶薄膜与一硅支撑衬底键合,得到包括碳化硅单晶晶片、4H‑SiC单晶薄膜和硅支撑衬底的复合结构;剥离,得到包括碳化硅单晶薄膜、4H‑SiC单晶薄膜和硅支撑衬底的复合结构;表面处理以除去碳化硅单晶薄膜,得到包括4H‑SiC单晶薄膜和硅支撑衬底的硅基异质集成4H‑SiC外延薄膜结构。本发明的制备方法得到的集成薄膜结构不存在结晶质量差的问题。
公开/授权文献
- CN109678106A 一种硅基异质集成4H-SiC外延薄膜结构的制备方法 公开/授权日:2019-04-26