本发明提供了一种测试用电路板，包括：基板，基板设有Dk和Df提取区域以及信号损耗区域；信号损耗区域设有用于检测信号损耗的第一电路；Dk和Df提取区域设有用于Dk和Df提取的第二电路；其中，基板为多层结构，多层结构的基板中包括至少一层信号层，第一电路与第二电路设于每层信号层上。本发明提供的测试用电路板，通过在一块基板上，同时设置用于检测信号损耗的第一电路，以及用于Dk和Df提取的第二电路，进而能够对一块PCB板实现信号损耗的检测与Dk和Df的提取，减少了PCB板的制作时间，减少了整个测试过程所用的时间。