- 专利标题: 用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置
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申请号: CN201811654199.4申请日: 2018-12-29
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公开(公告)号: CN109828241B公开(公告)日: 2024-01-26
- 发明人: 赵自然 , 游燕 , 李元景 , 马旭明 , 武剑
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园1号
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园1号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 孙纪泉
- 主分类号: G01S7/282
- IPC分类号: G01S7/282 ; G01S7/285 ; G01V3/12 ; G01V8/10
摘要:
一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置,包括:二维多发多收收发阵列面板,其包括至少一个子阵列,其中每个阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线,所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交;信号处理装置;显示装置;以及测距雷达。在每个子阵列中,每个发射天线和相应一个接收天线的连线的中点被看作这对发射天线‑接收天线的虚拟的等效相位中心,多个发射天线和多个接收天线被设置为产生等效相位中心网;相邻的发射天线或相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长,在所产生的等效相位中心网中,相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的
公开/授权文献
- CN109828241A 用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置 公开/授权日:2019-05-31