毫米波/太赫兹波成像设备及其校正方法

    公开(公告)号:CN109870738B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN201811654174.4

    申请日:2018-12-29

    IPC分类号: G01V8/10 G01V13/00

    摘要: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其校正方法,包括壳体、数据处理装置以及位于壳体内的校准源、准光学组件和探测器阵列,壳体上设置有供被检对象自发辐射或反射回来的波束穿过的窗口;准光学组件用于将来自被检对象的波束反射并汇聚至探测器阵列,并包括反射板,其与壳体可转动地连接以对来自被检对象位于视场不同位置的部分的波束进行反射;校准源在准光学组件的物面上;探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束和来自校准源的波束;数据处理装置接收探测器阵列所接收的被检对象的图像数据和校准源的校准数据,并基于校准数据更新图像数据。该成像设备比采用远处的空气进行校正更加稳定可靠且能够实时校正。

    校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法

    公开(公告)号:CN117687100A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311695565.1

    申请日:2023-12-11

    IPC分类号: G01V3/12 G01V8/10 G01V13/00

    摘要: 一种校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法,该校准装置包括:辐射计阵列,包括多个辐射计通道,辐射计通道适用于对接收的信号波进行探测;在辐射计阵列所处的环境温度变化超过预设阈值的情况下,信号生成机构按时序发出第一驱动信号和第二驱动信号;校准板的温度能够在第一温度和第二温度之间切换;驱动机构被配置为根据第一驱动信号驱动具有第一温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道,使得辐射计阵列的多个辐射计通道对随具有第一温度的校准板发出的信号波分别进行探测,以及根据第二驱动信号驱动具有第二温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道。

    一种图像识别装置及其方法

    公开(公告)号:CN109784245B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN201811654192.2

    申请日:2018-12-29

    摘要: 本申请提供了一种图像识别装置,包括:聚焦透镜,被配置为聚焦投射来自被检对象的毫米波/太赫兹波信号;双极化毫米波/太赫兹探测计,被配置为极化分离所述聚焦透镜所投射的毫米波/太赫兹波信号,获得水平极化信号和垂直极化信号;信号处理器,被配置为:对所述水平极化信号和所述垂直极化信号进行组合得到组合信号;以及基于所述水平极化信号、所述垂直极化信号、以及所述组合信号形成融合图像;神经网络识别器,被配置为:连续根据所述融合图像进行训练学习,获得不断更新的训练模型;以及基于所述训练模型进行图像识别;以及图像显示器,被配置为显示所识别出的图像。

    三维成像方法和装置、以及三维成像设备

    公开(公告)号:CN114609686A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202011429712.7

    申请日:2020-12-09

    摘要: 本发明涉及一种三维成像方法和装置、以及三维成像设备。该三维成像方法包括:三维信息获取步骤,通过深度相机拍摄包含检测对象的三维拍摄区域,生成三维图像信息;掩膜提取步骤,从所述三维图像信息提取所述检测对象的掩膜;成像区域确定步骤,根据所述检测对象的掩膜来确定关于所述检测对象的成像区域;全息数据获取步骤,通过全息数据采集装置,拍摄包含所述检测对象的全息数据采集区域,生成全息数据;以及图像重建步骤,基于所述全息数据对所述成像区域进行图像重建。

    太赫兹安检机器人
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113835135A

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN202010583713.0

    申请日:2020-06-23

    IPC分类号: G01V8/22 G01V8/26 B25J11/00

    摘要: 公开了一种太赫兹安检机器人,包括:壳体,所述壳体包括主壳体以及与所述主壳体转动式连接的头部壳体;太赫兹波成像机构,所述太赫兹波成像机构包括设置在所述头部壳体内的反射镜组件以及设置在所述主壳体内的探测器阵列;以及旋转机构,所述旋转机构用于使所述头部壳体及位于所述头部壳体内的反射镜组件相对于所述主壳体进行转动,从而使得所述太赫兹波成像机构的反射镜组件朝向不同的方向定向,以分别对安检场景中的不同检查区域内的被检查目标进行太赫兹扫描成像。

    毫米波/太赫兹波成像设备

    公开(公告)号:CN109870737B

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201811654168.9

    申请日:2018-12-29

    IPC分类号: G01V8/10

    摘要: 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备,包括:准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置,所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列,并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板;所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束;和所述反射板调节装置适用于调节所述反射板的运动,以使得所述反射板对所述被检对象自发辐射或反射回来的波束进行反射的轨迹包络为类圆形或类椭圆形,以使得采样密集点集中在全视场中间,而不是在视场边缘,且在视场的大部分区域,采样点分布均匀,插值方便。

    安检设备及其控制方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109799538A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201811654216.4

    申请日:2018-12-29

    IPC分类号: G01V3/12 G01V8/20

    摘要: 一种安检设备及其控制方法,所述安检设备包括固定在现场中的本体和安装在本体上的电磁成像装置,所述电磁成像装置包括:二维多发多收收发阵列面板,所述二维多发多收收发阵列面板包括:至少一个二维多发多收收发子阵列,每个二维多发多收收发子阵列包括多个发射天线和多个接收天线,所述多个发射天线和所述多个接收天线被布置为使得等效相位中心排列成二维阵列;以及控制电路;信号处理装置,用于根据接收到的回波信号来重建被检对象的图像;显示装置,用于显示所重建的被检对象的图像。