发明公开
- 专利标题: 用于检查和量测的方法和设备
- 专利标题(英): METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION AND METROLOGY
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申请号: CN201910250499.4申请日: 2016-03-25
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公开(公告)号: CN109917622A公开(公告)日: 2019-06-21
- 发明人: E·C·莫斯 , V·A·伊格纳托瓦 , E·詹森 , M·库比斯 , H·J·G·西蒙斯 , P·滕伯格 , E·J·M·沃勒博斯 , J·S·维尔登贝尔格
- 申请人: ASML荷兰有限公司
- 申请人地址: 荷兰维德霍温
- 专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰维德霍温
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 王茂华; 张虓
- 优先权: 62/146,123 2015.04.10 US
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G06F17/18 ; G06F17/50
摘要:
一种方法,包括:根据横跨衬底的测量数据,相对于表示拟合测得数据的数学模型的剩余不确定性的参数,对用于拟合测得数据的一个或多个数学模型和用于对数据进行测量的一个或多个测量采样方案进行评价;以及标识参数越过阈值的一个或多个数学模型和/或一个或多个测量采样方案。
公开/授权文献
- CN109917622B 用于检查和量测的方法和设备 公开/授权日:2021-08-06
IPC分类: