Invention Grant
- Patent Title: 失效分析方法、装置、设备和存储介质
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Application No.: CN201910243451.0Application Date: 2019-03-28
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Publication No.: CN109948276BPublication Date: 2023-08-04
- Inventor: 王弘剑 , 刘丽媛 , 彭泽亚 , 王有亮 , 赵振博
- Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Applicant Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Agency: 华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 王珊珊; 刘广
- Main IPC: G06F30/27
- IPC: G06F30/27 ; G06N20/00

Abstract:
本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质,计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据;然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理,获取与每个测试数据关联的失效节点信息;失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点,下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理;最后根据每个测试数据关联的失效节点信息,构建各个失效事件节点之间的父子关系,并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。
Public/Granted literature
- CN109948276A 失效分析方法、装置、设备和存储介质 Public/Granted day:2019-06-28
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