Invention Grant
- Patent Title: 一种快速制备高质量均匀层数石墨烯薄膜的方法
-
Application No.: CN201910187318.8Application Date: 2019-03-13
-
Publication No.: CN110040725BPublication Date: 2022-08-09
- Inventor: 任文才 , 辛星 , 徐川 , 成会明
- Applicant: 中国科学院金属研究所
- Applicant Address: 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- Assignee: 中国科学院金属研究所
- Current Assignee: 中国科学院金属研究所
- Current Assignee Address: 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- Agency: 沈阳优普达知识产权代理事务所
- Agent 张志伟
- Main IPC: C01B32/186
- IPC: C01B32/186 ; C01B32/194

Abstract:
本发明涉及二维石墨烯新材料及其化学气相沉积(CVD)制备领域,具体为一种快速制备高质量均匀层数石墨烯薄膜的方法,适于制备大面积的高质量均匀层数石墨烯薄膜。采用上层铜箔/底层过渡族金属箔片构成的双金属叠片作为生长基体,在低于铜熔点的温度下通过CVD技术催化裂解碳源生长出层数不均匀的石墨烯薄膜,后提高生长温度至铜熔点以上,在短时间内制备出高质量均匀层数的石墨烯薄膜,后续刻蚀掉铜基底得到高质量均匀层数的石墨烯薄膜。本发明具有制备工艺简单,时间周期短,产物尺寸及厚度易于调控并适于大面积制备等特点,为大面积高质量均匀石墨烯薄膜在场效应晶体管、透明导电薄膜、柔性电子器件等领域的研究和应用奠定基础。
Public/Granted literature
- CN110040725A 一种快速制备高质量均匀层数石墨烯薄膜的方法 Public/Granted day:2019-07-23
Information query