- 专利标题: 一种光电跟踪仪复合轴控制系统控制精度测试方法
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申请号: CN201910518967.1申请日: 2019-06-16
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公开(公告)号: CN110207723B公开(公告)日: 2023-05-23
- 发明人: 刘小强 , 陆培国 , 寿少峻 , 邢军智 , 任高辉 , 宋晓明 , 卢明飞 , 杨修林 , 柳井莉 , 张慧菁 , 王红红
- 申请人: 西安应用光学研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号
- 专利权人: 西安应用光学研究所
- 当前专利权人: 西安应用光学研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号
- 代理机构: 西北工业大学专利中心
- 代理商 陈星
- 主分类号: G01C25/00
- IPC分类号: G01C25/00
摘要:
本发明公开了一种光电跟踪仪复合轴控制系统控制精度测试方法,利用主轴角位置数据对主轴陀螺进行消偏及初始对准处理,然后依据目标的运动特性生成目标运动轨迹,复合轴主轴以虚拟目标角位置为输入,主轴角位置反馈进行位置闭环,同时以虚拟目标位置与主轴陀螺积分值的差值为主轴跟踪残余误差,子轴以该残余误差为输入进行位置闭环,该残余误差与子轴的角位置差值即为复合轴控制系统的控制精度。该方法可以在无测试目标配合条件下,并且在主轴测角精度不足以支撑子轴高精度测试的情况下,通过数字虚拟目标模拟测试目标,主轴陀螺数据积分值代替主轴角位置的方式,进行复合轴跟踪系统控制精度的测试,极大地减小了复合轴控制系统控制精度测试对设备和场地的依赖。
公开/授权文献
- CN110207723A 一种光电跟踪仪复合轴控制系统控制精度测试方法 公开/授权日:2019-09-06