发明授权
- 专利标题: 安全芯片业务流程的测试方法及装置
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申请号: CN201910480417.5申请日: 2019-06-04
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公开(公告)号: CN110209587B公开(公告)日: 2022-11-29
- 发明人: 周静 , 付青琴 , 赵东艳 , 刘佳 , 王锐 , 白雪松 , 孙韬 , 王聪 , 史玉洁 , 张伟 , 赵世杰
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ;
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ;
- 代理机构: 北京兴智翔达知识产权代理有限公司
- 代理商 张玉梅
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36
摘要:
本发明公开了一种安全芯片业务流程的测试方法及装置,所述测试方法包括:导入业务流程用例集;根据所述业务流程用例集中的函数名称对应的代码函数以及输入参数生成第一测试指令;向电能表中的安全芯片发送所述第一测试指令,并根据所述第一测试指令对所述安全芯片进行冒烟测试;根据所述业务流程用例集中的函数名称对应的代码函数以及输入参数生成第二测试指令;以及根据所述第二测试指令对所述安全芯片进行本地业务以及远程业务的自动化交互测试。本实施例提供的安全芯片业务流程测试方法及装置,可以根据业务需求实现远程和本地业务的交互流程测试,实现项目与项目之间的代码共用。
公开/授权文献
- CN110209587A 安全芯片业务流程的测试方法及装置 公开/授权日:2019-09-06