- 专利标题： 估计对于使用相控阵列系统的源跟踪的角度测量值
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申请号： CN201880017998.2申请日： 2018-02-22
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公开(公告)号： CN110418974B公开(公告)日： 2021-03-12
- 发明人: 阿舒托什·潘迪 , 纳恩·特兰 , 赖杰 , 詹姆斯·维哈迪亚 , 杜莱·蒂鲁帕迪
- 申请人： 赛普拉斯半导体公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 赛普拉斯半导体公司
- 当前专利权人： 赛普拉斯半导体公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京安信方达知识产权代理有限公司
- 代理商 张瑞; 杨明钊
- 优先权： 62/471,728 20170315 US 15/631,733 20170623 US
- 国际申请： PCT/US2018/019265 2018.02.22
- 国际公布： WO2018/169659 EN 2018.09.20
- 进入国家日期： 2019-09-12
- 主分类号： G01S3/32
- IPC分类号： G01S3/32 ; G01S3/46 ; G01S13/42 ; G01S13/44
摘要：
本文描述了用于相控阵列系统的源跟踪。一种处理设备包括通过多个天线元件发送或接收射频(RF)信号的收发机和耦合到收发机的处理器。处理器执行多角度源跟踪工具，该多角度源跟踪工具被配置为基于RF信号确定并存储多个天线元件和第二天线之间的角度的一组角度估计值、一组置信度度量以及到达区域(ARoA)值或离开区域(ARoD)值中的至少一个。该一组置信度度量中的每一个值表示该一组角度估计值中的角度估计值的置信度。
公开/授权文献
- CN110418974A 估计对于使用相控阵列系统的源跟踪的角度测量值 公开/授权日：2019-11-05
