半导体器件及其制造方法
Abstract:
提供一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件可以包括:多个有源区域,在基板上在第一方向上延伸;第一栅极结构和第二栅极结构,在第一方向上彼此间隔开并在基板上在交叉所述多个有源区域的第二方向上延伸;层间绝缘层,覆盖在第一栅极结构和第二栅极结构周围;以及栅极间切割层,在第一方向上穿过第一栅极结构和第二栅极结构以及层间绝缘层,该栅极间切割层包括绝缘材料,其中第一栅极结构和第二栅极结构由栅极间切割层切割,其中在切割第一栅极结构和第二栅极结构的区域处的栅极间切割层的底表面的水平面低于层间绝缘层中的栅极间切割层的底表面的水平面。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0