Invention Grant
- Patent Title: 半导体器件及其制造方法
-
Application No.: CN201910119597.4Application Date: 2019-02-18
-
Publication No.: CN110581129BPublication Date: 2024-01-16
- Inventor: 全庸淏 , 朴钟撤 , 明成禹 , 金廷炫
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 王新华
- Priority: 10-2018-0067062 2018.06.11 KR
- Main IPC: H01L27/088
- IPC: H01L27/088 ; H01L21/8234

Abstract:
提供一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件可以包括:多个有源区域,在基板上在第一方向上延伸;第一栅极结构和第二栅极结构,在第一方向上彼此间隔开并在基板上在交叉所述多个有源区域的第二方向上延伸;层间绝缘层,覆盖在第一栅极结构和第二栅极结构周围;以及栅极间切割层,在第一方向上穿过第一栅极结构和第二栅极结构以及层间绝缘层,该栅极间切割层包括绝缘材料,其中第一栅极结构和第二栅极结构由栅极间切割层切割,其中在切割第一栅极结构和第二栅极结构的区域处的栅极间切割层的底表面的水平面低于层间绝缘层中的栅极间切割层的底表面的水平面。
Public/Granted literature
- CN110581129A 半导体器件及其制造方法 Public/Granted day:2019-12-17
Information query
IPC分类: