发明公开
CN110646726A 一种PCB背钻无损检测方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种PCB背钻无损检测方法
- 专利标题(英): Back-drilling nondestructive testing method for PCBs
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申请号: CN201910894075.1申请日: 2019-09-20
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公开(公告)号: CN110646726A公开(公告)日: 2020-01-03
- 发明人: 肖永龙 , 韩启龙 , 张军杰 , 夏国伟 , 胡新星
- 申请人: 胜宏科技(惠州)股份有限公司
- 申请人地址: 广东省惠州市惠阳区淡水镇新桥村行诚科技园
- 专利权人: 胜宏科技(惠州)股份有限公司
- 当前专利权人: 胜宏科技(惠州)股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省惠州市惠阳区淡水镇新桥村行诚科技园
- 代理机构: 惠州创联专利代理事务所
- 代理商 潘丽君; 任海燕
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G01B7/26
摘要:
本发明涉及一种PCB背钻无损检测方法,通过在PCB制作单元旁设计背钻检测模块,所述背钻检测模块包括第一检测孔至第四检测孔、背钻孔,以及自上而下依次设置的Top层、精度检测层、钻穿层、不可钻穿层和Bottom层,通过第一检测孔至第四检测孔对背钻孔在精度检测层、钻穿层和不可钻穿层分别进行背钻检测,所述第一检测孔和第二检测孔用于精度检测层的背钻精度检测,所述第三检测孔用于钻穿层的钻穿检测,所述第四检测孔用于不可钻穿层的不钻穿检测。本发明PCB背钻无损检测方法适用所有背钻类PCB检测,在不影响客户的产品设计的情况下对背钻类PCB进行出货前背钻深度、钻穿层次和背钻精度进行检测,其检测可监控每块交货板的背钻品质,有效避免不良品流入客户端,同时避免切片导致的PCB报废。