发明授权
- 专利标题： 对多个电声器件进行测试的装置和方法
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申请号： CN201780090359.4申请日： 2017-04-12
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公开(公告)号： CN110720227B公开(公告)日： 2021-07-23
- 发明人: A·肯金 , K·斯托达特 , G·考恩 , K·盖茨
- 申请人： 思睿逻辑国际半导体有限公司
- 申请人地址： 英国爱丁堡
- 专利权人： 思睿逻辑国际半导体有限公司
- 当前专利权人： 思睿逻辑国际半导体有限公司
- 当前专利权人地址： 英国爱丁堡
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 蔡洪贵
- 国际申请： PCT/US2017/027117 2017.04.12
- 国际公布： WO2018/190818 EN 2018.10.18
- 进入国家日期： 2019-11-04
- 主分类号： H04R29/00
- IPC分类号： H04R29/00
摘要：
声学测试装置可以包括用于多个被测器件(DUT)的连接，以支持同时测试两个或更多个微型电声器件。声学测试装置可以允许以小于每个DUT一个参照麦克风的比率对多个DUT进行测试。因此，可以在无需通过额外的参照麦克风而增加大量成本的情况下加快测试DUT的速度。例如，单个参照麦克风可以用于测试通过声学测试腔耦合在一起的两个或四个DUT。
公开/授权文献
- CN110720227A 对多个电声器件进行测试 公开/授权日：2020-01-21
