公开(公告)号：CN110720227B

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201780090359.4

申请日：2017-04-12

申请人： 思睿逻辑国际半导体有限公司

发明人： A·肯金 ,  K·斯托达特 ,  G·考恩 ,  K·盖茨

IPC分类号： H04R29/00

摘要： 声学测试装置可以包括用于多个被测器件(DUT)的连接，以支持同时测试两个或更多个微型电声器件。声学测试装置可以允许以小于每个DUT一个参照麦克风的比率对多个DUT进行测试。因此，可以在无需通过额外的参照麦克风而增加大量成本的情况下加快测试DUT的速度。例如，单个参照麦克风可以用于测试通过声学测试腔耦合在一起的两个或四个DUT。

公开(公告)号：CN110720227A

公开(公告)日：2020-01-21

申请号：CN201780090359.4

申请日：2017-04-12

申请人： 思睿逻辑国际半导体有限公司

发明人： A·肯金 ,  K·斯托达特 ,  G·考恩 ,  K·盖茨

IPC分类号： H04R29/00

摘要： 声学测试装置可以包括用于多个被测器件(DUT)的连接，以支持同时测试两个或更多个微型电声器件。声学测试装置可以允许以小于每个DUT一个参照麦克风的比率对多个DUT进行测试。因此，可以在无需通过额外的参照麦克风而增加大量成本的情况下加快测试DUT的速度。例如，单个参照麦克风可以用于测试通过声学测试腔耦合在一起的两个或四个DUT。