一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置
摘要:
本发明公开了一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置,在任意一像素单元内的缓冲层、有源层、ITO等工艺过程中产生Particle导致short不良时,可通过激光熔融的方式使与该发生short不良的异常像素单元相邻且发光颜色相同的正常像素单元内的第一延伸部与该异常像素单元内的第二延伸部电连接,即使异常像素单元内的阳极与正常像素单元内的阳极电连接,从而通过正常像素单元驱动异常像素单元正常发光,可以将亮点和暗点像素单元维修成正常的像素单元,提升画面的显示效果,并且本发明只需要改变遮光部和阳极的构图工艺,不需要增加其它工艺和膜层,实现维修异常像素单元的工艺较简单。
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