本发明涉及一种检测LTPSAMOLED显示基板像素区晶体管特性的电路与方法，所述电路包括：驱动晶体管DTFT、存储电容Cst、初始化模块、写入模块、发光控制模块，其特征在于：还包括检测晶体管和多个检测端，其中，多个检测端包括第一检测端，其与检测晶体管的第一极连接，检测晶体管的第二极连接驱动晶体管DTFT栅极，检测晶体管栅极连接复位信号线。电路制作方便，具有更高的制样成功率，同时这种结构设计只需要将探针直接搭接在金属检测端上便可。并且增加的检测晶体管可以增加一条对存储电容Cst初始化路径，优化复位效果，有利于改善闪烁与残像等。