- 专利标题: 体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法
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申请号: CN201811043829.4申请日: 2018-09-07
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公开(公告)号: CN110887853B公开(公告)日: 2022-04-22
- 发明人: 郑洪龙 , 庹先国 , 石睿 , 李怀良 , 李志刚 , 何艾静 , 母襄樊 , 王叶蔺 , 刘威
- 申请人: 四川理工学院 , 西南科技大学
- 申请人地址: 四川省自贡市汇兴路学苑街180号;
- 专利权人: 四川理工学院,西南科技大学
- 当前专利权人: 四川理工学院,西南科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省自贡市汇兴路学苑街180号;
- 代理机构: 成都点睛专利代理事务所
- 代理商 李玉兴
- 主分类号: G01N23/044
- IPC分类号: G01N23/044
摘要:
本发明公开了一种解决已有方法通用性差、工作量大、准确度低问题的体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法。该方法首先通过建立空间点源效率函数确定SGS断层体素的无衰减效率,然后计算体素发射的γ射线进入探测器过程中在不同断层里的衰减长度,结合各断层的线衰减系数确定体素的衰减效率,最后对断层中所有体素的衰减效率进行加权平均,实现断层的衰减效率刻度。采用该方法在探测系统不变的情况下,对探测区域内的任意核废物桶位置、断层个数和体素个数,可快速实现断层衰减效率刻度,使刻度实现过程通用化、简单快捷化,避免了蒙特卡罗方法计算量巨大的局限,同时相比传统方法提高了效率刻度准确度。
公开/授权文献
- CN110887853A 体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法 公开/授权日:2020-03-17