发明公开
- 专利标题: 一种晶体振荡器测试装置及测试方法
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申请号: CN201911368418.7申请日: 2019-12-26
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公开(公告)号: CN110954757A公开(公告)日: 2020-04-03
- 发明人: 郄莉 , 彭慧丽 , 于德江 , 乔志峰 , 韩艳菊 , 苏霞
- 申请人: 北京无线电计量测试研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区142信箱408分箱
- 专利权人: 北京无线电计量测试研究所
- 当前专利权人: 北京无线电计量测试研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区142信箱408分箱
- 代理机构: 北京正理专利代理有限公司
- 代理商 付生辉
- 主分类号: G01R29/26
- IPC分类号: G01R29/26 ; G01R1/04 ; G01M7/02
摘要:
本发明公开了一种晶体振荡器测试装置及测试方法,该装置包括振动测试台,还包括夹具和至少一个印刷电路板,所述夹具固定在所述振动测试台上,所述印刷电路板固定在所述夹具上,所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具,以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试;本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案,以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率,降低了在振动测试时的外界噪声干扰,提高晶体振荡器测试的准确性,确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。