摘要:
本发明公开了一种基于电性能幅值加权的阵元安装位置的测量方法。针对有源相控阵雷达阵元的安装位置,计算了阵列不同区域安装位置精度影响,划分子阵并确定各子阵的采样数量,根据雷达整体阵列的装配结构划分一级子阵并选取关键特征子阵;根据各关键特征子阵的幅值等高线包围盒确定二级子阵;采用幅值均方值与阵元数量相结合的加权方法确定各二级子阵的采样数量,获取组成一级子阵样本,建立各一级子阵的模型,进而估计整体阵列的离散精度并以此处理获得雷达电性能。在相同的采样数量下,本发明方法的增益计算精度比普通采样方法提高了1%,并且近区副瓣形状更准确。
公开/授权文献
- CN111123229A 基于电性能幅值加权的阵元安装位置的测量方法 公开/授权日:2020-05-08