- 专利标题: 黑陶瓷低熔玻璃外壳集成电路内部水汽含量控制方法
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申请号: CN202010013321.0申请日: 2020-01-07
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公开(公告)号: CN111192839A公开(公告)日: 2020-05-22
- 发明人: 商登辉 , 房迪 , 张超超 , 蔡景洋 , 聂平健 , 周东 , 周恒 , 田东 , 李阳 , 李洪秀 , 刘思奇 , 刘金丽
- 申请人: 贵州振华风光半导体有限公司
- 申请人地址: 贵州省贵阳市新添大道北段238号
- 专利权人: 贵州振华风光半导体有限公司
- 当前专利权人: 贵州振华风光半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 贵州省贵阳市新添大道北段238号
- 代理机构: 贵阳中工知识产权代理事务所
- 代理商 刘安宁
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67
摘要:
黑陶瓷低熔玻璃外壳集成电路内部水汽含量控制方法,该方法包括①根据水汽存在位置针对性地去除水汽,清洗后的管壳放入远红外烘干炉进行表面烘干;②在装结工序前进行矩阵排放至铝合金衬底托架或者不锈钢放盘中,放入真空烧焊设备反复抽真空、通氮气,然后进行预升温预热、预保温,再升温至除气温度、再保温、降温的工艺。③将半成品以矩阵排放方式放入真空烘箱烘烤;④在完成键合后将产品放入真空烘箱再次烘烤。本发明工艺简单、定位准确、有效的缩短烘烤时间,减小应力积累,创造性地将物理方法和材料特性进行耦合,通过真空压力差和材料结构软化有效去除常用工艺无法去除的材料内部包裹性水汽。该方法适用于各类黑陶瓷低熔玻璃外壳封装的器件。
公开/授权文献
- CN111192839B 黑陶瓷低熔玻璃外壳集成电路内部水汽含量控制方法 公开/授权日:2023-05-12
IPC分类: