本发明公开了一种压接型单芯片的测试装置，包括测试装置主体，所述测试装置主体的一侧外表面设置有升降结构，所述升降结构的上端外表面设置有操作控制台板，所述操作控制台板的上端外表面设置有可调节控制键盘，所述升降结构的下端设置有散热防尘结构。本发明通过可调节控制键盘，可以有效的保证操作键盘的键位卫生，增加操作键盘的卫生与使用寿命，有利于人们的使用，通过升降结构，可以通过每个身高不同的工作人员来调整检测显示屏的高度，以便于人们的操作，通过散热防尘结构，可以有效保证灰尘不会通过散热处进入测试装置的内部，还以便于人们定时清理散热防尘箱内部的灰尘，以便于装置的散热效果。