- 专利标题: 一种Y波导参数测量仪、测量系统及测量方法
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申请号: CN202010201236.7申请日: 2020-03-20
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公开(公告)号: CN111337052B公开(公告)日: 2024-03-22
- 发明人: 刘凡 , 李建光 , 刘东伟 , 王强龙 , 肖浩 , 刘博阳 , 雷军
- 申请人: 北京世维通光智能科技有限公司
- 申请人地址: 河北省廊坊市三河市燕郊经济开发区神威北路339号精工园13号办公楼
- 专利权人: 北京世维通光智能科技有限公司
- 当前专利权人: 北京世维通光智能科技有限公司
- 当前专利权人地址: 河北省廊坊市三河市燕郊经济开发区神威北路339号精工园13号办公楼
- 代理机构: 北京高沃律师事务所
- 代理商 刘凤玲
- 主分类号: G01C25/00
- IPC分类号: G01C25/00 ; G01M11/02 ; G02B6/26 ; G02B6/27
摘要:
本发明涉及一种Y波导参数测量仪、测量系统及测量方法。所述Y波导参数测量仪包括:光源、可调光衰减器、环形器、光探测器、光路变换装置和上位机。光源的输出端连接可调光衰减器的输入端,可调光衰减器的输出端连接环形器的第一端口;环形器的第二端口连接待测Y波导的主干的一端;主干的另一端与待测Y波导的第一分叉的一端和待测Y波导的第二分叉的一端连接;第一分叉的另一端连接光路变换装置的第一端口;第二分叉的另一端连接光路变换装置的第二端口;环形器的第三端口连接光探测器的输入端;光探测器的输出端连接上位机。本发明基于传统萨格纳克干涉仪的测量方法,实现多参量测量,且测量步骤简单、成本大幅度低,一键式全自动测量。
公开/授权文献
- CN111337052A 一种Y波导参数测量仪、测量系统及测量方法 公开/授权日:2020-06-26