发明公开
- 专利标题: 一种表面微观形貌测量传感器
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申请号: CN202010298447.7申请日: 2020-04-16
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公开(公告)号: CN111351451A公开(公告)日: 2020-06-30
- 发明人: 施玉书 , 张树 , 皮磊 , 史舟淼 , 高思田 , 李伟 , 李琪 , 李适 , 黄鹭
- 申请人: 中国计量科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 代理机构: 北京高沃律师事务所
- 代理商 刘凤玲
- 主分类号: G01B11/30
- IPC分类号: G01B11/30 ; G05D15/01
摘要:
本发明公开一种表面微观形貌测量传感器,用于测量待测工件表面的形貌,包括:触针,用于测量微观形貌;触针轴,一端与所述触针连接,用于在所述触针测量微观形貌时跟随所述触针进行上下移动;磁恒力模块,与所述触针轴的另一端连接,用于调节所述触针与待测工件之间的测量力;触针轴气浮模块,环绕在所述触针轴外围,用于使所述触针轴悬浮;位移测量模块,设置在所述触针轴的正上方,用于测量所述触针轴在垂直方向上的位移。本发明通过触针轴气浮模块在触针轴外表面形成气隙,保证触针轴悬浮且摩擦最小,提高了触针测量的精度。通过磁恒力模块可调整触针与待测工件之间的测量力,以使触针将工件表面形貌更真实的传递给传感器。