本发明提供了一种优化阻挡杂质带探测器噪声的方法、系统及介质，首先通过数值模拟及数据拟合得到在特定工作偏压及特定工作温度下，探测器噪声频谱密度关于不同阻挡层厚度的函数式，根据该函数式及设计的噪声频谱密度提取出相应的定制阻挡层厚度，按照该阻挡层厚度进行制作的探测器可使噪声频谱密度满足设计要求。该方法的优点在于，可以针对不同材料体系及不同工艺条件得到的阻挡杂质带探测器提取出噪声频谱密度与阻挡层厚度的关系，得到在特定工作偏压及特定工作温度下的定制阻挡层厚度，由此设计并制作的探测器噪声频谱密度将满足设计要求，避免为了优化探测器噪声设计而进行反复试片，极大地缩短了探测器的研发周期并降低了研发成本。