本发明提供了一种采样率校正方法、系统、设备及存储介质，所述方法包括：统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间；根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间；根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正。本发明无需修改或增加硬件电路，经过采样率校正，改善了采样时所产生的时间偏差，提高了采样精度，经过实验证明可以大大提升采样率的准确性并且稳定无漂移，该方法可以适应于不同晶片的差异性，能够在保证采样数据的精度的同时也保证数据的准确性。