本发明涉及一种可快速改变剪切方向和大小的微分干涉成像系统，包括：光源、滤光片、起偏器、样品台、无限远成像显微物镜、镜筒透镜、剪切组件、检偏器、图像传感器。光源发出的线偏振光经过滤光片调整光强和起偏器调整偏振方向后，再经过置于样品台上的透明样品后被无限远成像显微物镜收集并通过镜筒透镜成像，成像光束被剪切组件分为两束偏振方向相互垂直、具有微小剪切量的线偏振光场，再由检偏器合成后成为干涉光场，最终在图像传感器中形成微分干涉图像。本发明提供的微分干涉成像系统可以灵活地装配到常规光学显微镜上，结构简单，易于实现，能够通过对非染色样品进行高质量的定量相位测量来研究样品的形态与结构。