Invention Publication
- Patent Title: 一种IGBT开关特性测试电路及测试方法
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Application No.: CN202010431615.5Application Date: 2020-05-20
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Publication No.: CN111579958APublication Date: 2020-08-25
- Inventor: 唐新灵 , 吴军民 , 赛朝阳 , 张朋 , 王亮 , 林仲康 , 杜玉杰 , 张西子
- Applicant: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国网湖北省电力有限公司 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- Assignee: 全球能源互联网研究院有限公司,国网湖北省电力有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee: 全球能源互联网研究院有限公司,国网湖北省电力有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- Agency: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- Agent 张琳琳
- Main IPC: G01R31/26
- IPC: G01R31/26 ; H02H7/22

Abstract:
本发明公开了一种IGBT开关特性测试电路及测试方法,测试电路包括负载电感电路和直流母线电源,所述直流母线电源与所述负载电感电路以及被测IGBT器件串联;第一开关器件,连接在所述直流母线电源的正极与所述负载电感电路的输出端之间,用于切断或者接通直流母线;电阻R1,第一端连接所述第一开关器件的低压端,第二端与负载电感电路的输入端连接,用于在所述被测IGBT器件和/或所述第一开关器件和/或所述负载电感电路失效时,吸收所述直流母线电源的电量。本发明通过增加了第一开关器件和电阻R1,实现器件测试完成后切断直流母线电容能量释放通道,以及吸收直流母线释放的能量,降低器件失效后烧毁程度,防止失效器件爆炸。
Public/Granted literature
- CN111579958B 一种IGBT开关特性测试电路及测试方法 Public/Granted day:2022-04-05
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