- 专利标题: 一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法
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申请号: CN202010488458.1申请日: 2020-06-02
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公开(公告)号: CN111692991B公开(公告)日: 2021-09-10
- 发明人: 张建中 , 马占宇 , 柴全 , 苑勇贵 , 王钢 , 王超
- 申请人: 哈尔滨工程大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
- 专利权人: 哈尔滨工程大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工程大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24 ; G01B11/255 ; G01B9/02
摘要:
本发明提供一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法,属于激光板条的质量检测领域,白光干涉系统通过光纤探头对键合面进行光斑点式探测,配合位移调节架实现扫描测试,提出一种改进的点云数据获取方法,尤其涉及双曲率参数加权平均值评估,经过粗测和精测两次点云数据获取的技术方法,具体是:首先粗测采点,获取键合面初步点云,包括键合面三维位置点云,和对应点反射率信息点云;然后构建邻域,求解两种点云对应的曲率分布;最后根据两曲率加权值的值域分级别对键合面区域分割,插值补测。本发明创新性提出改进的加权平均合曲率参数作为键合面缺陷评价指标,并针对合曲率大的区域插值补测,有效节省检测成本。
公开/授权文献
- CN111692991A 一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法 公开/授权日:2020-09-22