- 专利标题: 功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质
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申请号: CN202010613779.X申请日: 2020-06-30
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公开(公告)号: CN111737935B公开(公告)日: 2023-09-29
- 发明人: 彭超 , 雷志锋 , 张战刚 , 何玉娟 , 黄云 , 恩云飞
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 黄正奇
- 主分类号: G06F30/33
- IPC分类号: G06F30/33 ; G06F30/25 ; G06F119/02
摘要:
本申请涉及一种功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质。功率器件失效率评估方法包括:获取重离子的阈值能量;模拟沉积能量大于或者等于阈值能量的重离子入射至待测态功率器件的过程,确定功率器件的敏感区域;模拟辐射粒子入射至待测态功率器件而产生次级重离子的过程,获取辐射粒子产生的进入敏感区域的次级重离子的沉积能量;根据进入敏感区域的次级重离子的沉积能量与阈值能量的关系,获取待测态功率器件发生单粒子烧毁事件的次数;根据单粒子烧毁事件的次数,评估辐射粒子导致待测态功率器件的失效率情况。本申请可以有效降低测试成本。
公开/授权文献
- CN111737935A 功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质 公开/授权日:2020-10-02