-
公开(公告)号：CN212391795U
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202021039723.X
申请日：2020-06-09
申请人： 安徽大学
IPC分类号： G06F30/33 , G06N3/04 , G06K9/62 , G11C13/00 , G06F119/10
摘要： 本实用新型公开了基于盲分离与卡尔曼滤波器的忆阻器窄带干扰处理系统，包括盲分离系统和干扰处理系统，所述盲分离系统包括外部数据源模块，所述外部数据源模块的输出端电连接有信号白化模块，所述信号白化模块的输出端依次电连接有第一忆阻器网络模块、盲信号处理模块，所述第一忆阻器网络模块的输出端电连接有第二忆阻器网络模块，所述盲信号处理模块的输出端电连接有稀疏信号处理模块，所述稀疏信号处理模块的输出端电连接有自动检测算法模块，所述自动检测算法模块与第一忆阻器网络模块之间电连接，所述第二忆阻器网络模块的输出端与自动检测算法模块之间电连接，所述自动检测算法模块与自动检测算法模块之间电连接。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN118627439B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411095185.9
申请日：2024-08-12
申请人： 成都迪真计算机科技有限公司
发明人： 周勋
IPC分类号： G06F30/33 , G06F30/327 , G06F40/253
摘要： 本发明公开了一种基于形式化验证的FPGA缺陷检查方法，该方法首先载入Verilog和VHDL代码文件，通过语法语义分析，生成语法树，进行逻辑优化和综合，扫描设计并插入断言，基于形式化验证方法进行缺陷检查，并生成检测结果。本发明可用于实现一款基于形式化验证的FPGA缺陷检查软件，支持对Xilinx\Altera\Lattice\Actel芯片中的RTL代码进行全面深入的缺陷检查。基于形式化验证方法的检查对于静态检查拥有更严格的数学证明、更具体的检查结果、可复现验证的缺陷路径。
-
公开(公告)号：CN118569158B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411043173.1
申请日：2024-07-31
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种SATA主机芯片验证系统。为提高验证效率，加快验证结果收敛，本发明的SATA主机芯片验证系统包括AHCI驱动验证平台、SATA主机芯片、SATA设备模型，AHCI驱动验证平台通过AXI接口和SATA主机芯片之间建立数据连接；SATA主机芯片通过物理层接口和SATA设备模型之间建立数据连接；SATA设备模型和AHCI驱动验证平台分别基于Verilog硬件描述语言和System Verilog硬件描述和硬件验证语言。本发明提升了SATA主机芯片的验证效率，能够更加灵活地构造与实现错误和异常场景，使覆盖场景更加全面。本发明适于芯片测试领域。
-
公开(公告)号：CN118627438B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202411080659.2
申请日：2024-08-08
申请人： 英诺达(成都)电子科技有限公司
发明人： 张英杰
摘要： 本申请涉及集成电路技术领域，提供了一种对象比较方法、装置、存储介质、计算机设备和程序产品，对象比较方法应用于目标工具的命令解释器，目标工具包括集成电路电子设计自动化软件，对象比较方法包括：响应于代码编辑操作，添加自定义比较代码，其中，自定义比较代码表示通过执行自定义比较函数实现基于对象特征的对象比较，其中，对象特征用于区分不同的对象；接收对象比较命令，其中，对象比较命令包括待比较对象；响应于对象比较命令，执行自定义比较代码，以通过执行自定义比较函数实现获取待比较对象的对象特征，并根据对象特征对待比较对象进行比较，得到比较结果。该方法能绕开名称对不同的对象本身进行比较，可提升集成电路的设计效率。
-
公开(公告)号：CN118862768A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410903574.3
申请日：2024-07-04
申请人： 飞腾信息技术有限公司
IPC分类号： G06F30/33 , G06F115/02
摘要： 本申请提出一种芯片仿真验证方法、系统、电子设备及程序产品，该方法包括：指示第一验证环境的待验证芯片模型从目标存储位置加载并运行第一驱动程序；第一驱动程序包括第一节点程序，当第一节点程序被待验证芯片模型运行时触发芯片仿真验证系统保存第一验证环境的数据快照；芯片仿真验证系统创建第二验证环境并控制第二验证环境恢复数据快照，以使第二验证环境的待验证芯片模型从保存数据快照的节点开始、继续从目标存储位置加载并运行第二驱动程序；第二驱动程序的结构与第一驱动程序的结构相同，第二驱动程序为在创建第二验证环境的过程中，对存储在目标存储位置的第一驱动程序进行替换得到的驱动程序。上述方法能够提高芯片仿真验证效率。
-
公开(公告)号：CN118569160B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411043334.7
申请日：2024-07-31
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种PCIe设备模块验证方法。为了提高提高PCIe设备模块的验证效率，本发明的PCIe设备模块验证方法，应用于PCIe设备模块验证系统中，所述PCIe设备模块验证系统包括自定义验证环境层和PCIe知识产权核验证模块中的验证环境层，通过两种不同的测试判断机制，且根据预设测试场景决定使用何种测试判断机制。本发明通过将PCIe知识产权核验证模块进一步封装，实现对PCIe设备模块的验证环境的快速搭建和便捷应用，简化验证流程，缩短仿真时间。本发明适于芯片测试领域。
-
公开(公告)号：CN118798102A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411129120.1
申请日：2024-08-16
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
摘要： 本申请涉及集成电路技术领域，公开一种用于寄存器功能验证的方法，包括：根据寄存器列表文件，生成寄存器功能测试用例；对寄存器功能测试用例进行回归仿真，以获得日志记录；提取日志记录中的错误信息；利用训练后的集成学习模型，对错误信息对应的寄存器进行读写属性的预测，并将预测结果记录于寄存器列表文件。该方法可实现寄存器功能的自动验证，降低时间成本和人力成本，且验证方法简便效率高。本申请还公开一种用于寄存器功能验证的装置和测试验证设备。
-
公开(公告)号：CN118797350A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410999572.9
申请日：2024-07-24
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G06F18/214 , G06F18/213 , G06F18/25 , G06F30/33 , G06N3/0464
摘要： 本发明提供了一种去除柔性电容式传感阵列中电学串扰的网络及其训练方法，该网络包括：依次连接的初步特征提取和维数变换卷积层、主干网络和输出卷积层；主干网络由d层MACB模块堆叠组成，d为大于等于1的正整数，MACB模块的层数d根据待去除电学串扰的柔性电容式传感阵列的尺寸确定；MACB模块依次包括串扰信息提取单元、通道连接单元和跨通道特征融合和降维单元；串扰信息提取单元包括并联的四个不同大小的非对称卷积核，其相较于传统解决方案的局限性，去除柔性电容式传感阵列中电学串扰的网络同时利用了深度神经网络的强大拟合能力和柔性电容式传感阵列的空间结构特征，获得了更好的性能。
-
公开(公告)号：CN118586328B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411063941.X
申请日：2024-08-05
申请人： 英诺达(成都)电子科技有限公司
IPC分类号： G06F30/327 , G06F30/33
摘要： 本发明公开了一种网表电路的指定路径查询方法、装置、设备、介质及产品，方法包括：响应于路径查询指令，确定至少一条指定路径；其中，指定路径包括起始点、终止点以及至少一个途经点；从起始点开始对网表电路的每一条支路进行遍历，在遍历到的支路包含至少一条指定路径的所有途经点和终止点的情况下，生成指定路径的路径节点集合，并从起始点开始对下一条支路进行遍历，直至遍历所有支路；根据每个指定路径的路径节点集合，生成路径匹配结果。本发明能够从网表电路中查询得到满足用户需求的指定路径。
-
公开(公告)号：CN118780218A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411237688.5
申请日：2024-09-05
申请人： 上海超捷芯软科技有限公司
发明人： 潘仲豪
IPC分类号： G06F30/33
摘要： 本发明提供一种集成电路失效率敏感度分析方法、系统、设备及介质，包括：获取原电路，其具有若干设计参数；使原电路的其中一个设计参数变化一微小变化量得到一新电路；设定一组压扩因子，并针对每个压扩因子，分别基于缩放方差采样方法估计原电路的压扩失效率和压扩失效率的方差、以及新电路的压扩失效率和压扩失效率的方差；基于原电路、新电路的压扩失效率和压扩失效率的方差的全部估计结果，确定原电路失效率关于其中一个设计参数的敏感度系数的最优解；基于敏感度系数的最优解，确定原电路失效率关于其中一个设计参数的敏感度。本发明能够在有限的计算成本内，准确估计集成电路的极低失效率相对于电路设计参数的敏感度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
1576 条记录 (耗时 0.023 秒)
