工控数据攻击样本生成方法、系统、电子设备及存储介质
摘要:
本发明公开了工控数据攻击样本生成方法、系统、电子设备及存储介质,涉及工业控制系统攻击样本生成技术领域。一种工控数据攻击样本生成方法,包括:从业务数据集中抽取正例样本形成正例样本数据集;攻击样本也称为负例样本。对所述正例样本数据集进行攻击,生成的攻击样本集合称为预攻击样本数据集;对于所述的预攻击样本数据集生成稀疏矩阵,并采用SGD方法进行填充,生成初始攻击样本;基于所述初始攻击样本数据集采用双判别模型的生成式对抗网络形成攻击样本生成模型;调用所述攻击样本生成模型生成攻击样本数据集。采用本发明的技术方案,能够批量的高效生成对抗性较强的高质量工控系统攻击样本集合。
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