Invention Grant
- Patent Title: 动态高分辨光学波前相位测量方法
-
Application No.: CN202010494800.9Application Date: 2020-06-03
-
Publication No.: CN111751012BPublication Date: 2021-12-14
- Inventor: 段亚轩 , 达争尚 , 李红光 , 李铭 , 王璞 , 陈晓义 , 陈永权 , 袁索超 , 蔺辉
- Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 王凯敏
- Main IPC: G01J9/02
- IPC: G01J9/02 ; G01B11/24 ; G01M11/02
Abstract:
为了解决现有的动态光学波前相位测量装置精度不高、分辨率不高的技术问题,本发明提出了一种动态高分辨光学波前相位测量方法,利用激光器、准直镜、平面反射镜、分光镜、吸收体、混合调制光栅、探测器、计算机、不同F#标准镜头和校准镜,能够实现对光学元件面形和光学系统波像差的主动式光学测试。本发明的分辨率由探测器像元尺寸大小决定,可实现高分辨率的光学波前相位测量,分辨率可小于0.01mm。本发明在系统本底误差标定一次后,即作为系统数据,实际面形测量时只需采集一次图像就可计算得到被测表面形貌信息,故相对传统相移干涉法,本发明不受环境影响。
Public/Granted literature
- CN111751012A 动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法 Public/Granted day:2020-10-09
Information query