发明公开
CN111785688A 制造集成电路器件的方法
审中-实审
- 专利标题: 制造集成电路器件的方法
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申请号: CN202010589566.8申请日: 2017-06-19
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公开(公告)号: CN111785688A公开(公告)日: 2020-10-16
- 发明人: 郑镛国 , 朴起宽
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 张波
- 优先权: 10-2016-0076615 2016.06.20 KR
- 主分类号: H01L21/8238
- IPC分类号: H01L21/8238 ; H01L27/092 ; H01L27/11 ; H01L21/8244
摘要:
本公开提供了制造集成电路器件的方法。一种制造集成电路器件的方法包括:在基板的第一区域中形成第一鳍型有源区以及在所述基板的第二区域中形成第二鳍型有源区;在所述基板上形成间隔物层,所述间隔物层覆盖所述第一鳍型有源区和所述第二鳍型有源区;以及蚀刻所述间隔物层、所述第一鳍型有源区和所述第二鳍型有源区以同时形成所述第一鳍型有源区上的第一凹陷、所述第二鳍型有源区上的第二凹陷以及第一鳍绝缘间隔物,所述第一鳍绝缘间隔物是所述间隔物层的第一剩余部分,该第一剩余部分覆盖所述第一凹陷下面的所述第一鳍型有源区的侧壁。
公开/授权文献
- CN111785688B 制造集成电路器件的方法 公开/授权日:2023-12-08
IPC分类: