发明公开
- 专利标题： LED芯片测试治具、测试方法及测试系统
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申请号： CN202011114901.5申请日： 2020-10-19
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公开(公告)号： CN111929571A公开(公告)日： 2020-11-13
- 发明人: 林智远 , 闫晓林
- 申请人： 深圳市TCL高新技术开发有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路1001号TCL科学园区研发楼D4栋8层B1单位802-1号房
- 专利权人： 深圳市TCL高新技术开发有限公司
- 当前专利权人： 深圳市TCL高新技术开发有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路1001号TCL科学园区研发楼D4栋8层B1单位802-1号房
- 代理机构： 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理商 李艳丽
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
本申请涉及LED芯片测试治具、测试方法及测试系统，LED芯片测试治具提供一铺设测试电极的基板，在将基板上的电解质层与铺设有阵列排布的LED芯片的芯片膜贴合后，则可以使得正测试电极、负测试电极分别与对应的待测LED芯片的电极对齐，形成有效电容耦合以供电，从而对LED芯片进行光电特性测试，由此可见，使用上述的LED芯片测试治具可以对巨量的LED芯片实施光电特性测试，方便简洁，准确性高。
公开/授权文献
- CN111929571B LED芯片测试治具、测试方法及测试系统 公开/授权日：2022-11-04
