发明授权
- 专利标题: 一种紧凑型质子能谱测量装置
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申请号: CN202010871815.2申请日: 2020-08-26
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公开(公告)号: CN111948699B公开(公告)日: 2024-08-30
- 发明人: 闫亚东 , 刘霞刚 , 高炜 , 李奇 , 王军宁 , 何俊华
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 董娜
- 主分类号: G01T1/36
- IPC分类号: G01T1/36
摘要:
本发明提供了一种紧凑型质子能谱测量装置,解决现有采用堆栈探测器对质子能谱探测,效率低且具有接触污染物风险的问题。该装置包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片、闪烁体、成像镜头及探测器;楔形滤片的薄边厚度为0.2mm~2mm,厚边厚度为1.0mm~10mm;成像镜头采用物方远心系统;质子束入射楔形滤片,经楔形滤片能谱过滤后入射闪烁体,激发出可见光子并入射至成像镜头,成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到探测器的像增强靶面上。楔形滤片不同厚度位置透过的质子能量不同,因而通过楔形滤片可以获得质子的连续能谱信息,实现质子能谱的高效测量。
公开/授权文献
- CN111948699A 一种紧凑型质子能谱测量装置 公开/授权日:2020-11-17