本发明公开了一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统，该系统包括测试模块，其中测试模块的输入端为多个外部管脚，其输出端连接待测芯片的多路复用器。测试模块在外部管脚达到特定组合时进入对应的测试模式。测试模块包括线性稳压器测试模式，线性稳压器测试模式包括时钟控制信号、闪存控制信号和线性稳压器控制信号，且线性稳压器测试模式生效时输出具有更高优先级的控制信号。本发明能够在测试模式下实现芯片最低功耗场景，可以有效降低测试时间，并且降低测试难度。