• 专利标题: 一种基于关断延迟时间的IGBT结温检测系统与检测方法
  • 申请号: CN202010371149.6
    申请日: 2020-05-06
  • 公开(公告)号: CN112034320A
    公开(公告)日: 2020-12-04
  • 发明人: 徐国卿王玺年
  • 申请人: 上海大学
  • 申请人地址: 上海市宝山区上大路99号
  • 专利权人: 上海大学
  • 当前专利权人: 上海大学
  • 当前专利权人地址: 上海市宝山区上大路99号
  • 代理机构: 上海上大专利事务所
  • 代理商 何文欣
  • 主分类号: G01R31/26
  • IPC分类号: G01R31/26
一种基于关断延迟时间的IGBT结温检测系统与检测方法
摘要:
本发明公开了一种基于IGBT关断延迟时间的结温测量系统及方法,系统包括待测IGBT模块分别连接IGBT控制单元、电压VeE采集单元、集电极电流采集单元和集射极电压采集单元。方法为:通过离线测试方式标定IGBT关断延迟时间、集电极电流以及结温的离线数据,然后进行拟合;在线测量IGBT的发射极电流以及关断延迟时间,结合拟合得到的IGBT结温与关断延迟时间、集电极电流的关系,实现IGBT结温的在线检测。本发明对IGBT关断延迟时间与结温的关系进行线性化处理,建立其斜率与截距关于IGBT正向导通电流的函数模型。并利用时间数字转换技术,将时间信号转换为数字信号;仅需采集发射极寄生电感上感应电压和发射极电流,具有建模简单,容易测量,精度高等优点。
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