发明授权
- 专利标题: 辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质
-
申请号: CN201910540196.6申请日: 2019-06-21
-
公开(公告)号: CN112114349B公开(公告)日: 2023-07-04
- 发明人: 张丽 , 孙运达 , 梁午阳 , 金鑫 , 陈志强
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园;
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园;
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 曹蓓; 许蓓
- 主分类号: G01T1/29
- IPC分类号: G01T1/29 ; G01T1/36 ; G01T1/02
摘要:
本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质,涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括:采用预定数量的射线模拟扫描预定物体;获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息,其中,预定物体的表面划分为多个次级面源;将各个次级面源作为射线源,基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法,能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源,基于次级源分析辐射剂量分布情况,降低了运算量,提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性,提高了辐射分析的准确度。
公开/授权文献
- CN112114349A 辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质 公开/授权日:2020-12-22