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公开(公告)号：CN112114349A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910540196.6
申请日：2019-06-21
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。
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公开(公告)号：CN116095932B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202111310304.4
申请日：2021-11-05
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： H05G1/38 , H05G1/30 , G01N23/046 , G01V5/00
摘要： 本公开涉及安检成像技术领域，更具体地，涉及一种成像系统中光机出束控制方法。所述方法包括接收编码器信号、光机出束信号，并对编码器信号、光机出束信号进行初始化同步；记录tm时刻编码器的编码值M，tm+1时刻编码器的编码值N，M、N、m为整数；判断编码值M和编码值N的差值满足预设值a时，确定tm时刻到tm+1时刻的时长为光机的实际出束时间间隔T，a为整数；基于成像系统的预设出束时间间隔TJ和实际出束时间间隔T确定实际出束时间间隔T中的间隙时间TG；控制光机在间隙时间TG内不发射光束。本公开解决了带速波动导致的采样图像错乱的问题。本公开还涉及成像系统中光机出束控制装置、CT成像系统、电子设备、存储介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN116095932A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202111310304.4
申请日：2021-11-05
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： H05G1/38 , H05G1/30 , G01N23/046 , G01V5/00
摘要： 本公开涉及安检成像技术领域，更具体地，涉及一种成像系统中光机出束控制方法。所述方法包括接收编码器信号、光机出束信号，并对编码器信号、光机出束信号进行初始化同步；记录tm时刻编码器的编码值M，tm+1时刻编码器的编码值N，M、N、m为整数；判断编码值M和编码值N的差值满足预设值a时，确定tm时刻到tm+1时刻的时长为光机的实际出束时间间隔T，a为整数；基于成像系统的预设出束时间间隔TJ和实际出束时间间隔T确定实际出束时间间隔T中的间隙时间TG；控制光机在间隙时间TG内不发射光束。本公开解决了带速波动导致的采样图像错乱的问题。本公开还涉及成像系统中光机出束控制装置、CT成像系统、电子设备、存储介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN117270066A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311490080.9
申请日：2023-11-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 提供一种直线扫描CT成像系统和方法，该系统包括：传送装置，用于使扫描对象在扫描通道中沿预定的传送方向移动；射线源，射线源用于交替发出射线束以形成扫描区域；探测器，探测器包括第一探测器和第二探测器；第一探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第一投影数据；第二探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第二投影数据；成像装置，根据第二投影数据，生成扫描对象的数字化射线图像，以及根据第一投影数据和第二投影数据，得到扫描对象的计算机断层扫描图像。
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公开(公告)号：CN116973966A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310952671.7
申请日：2019-06-21
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。
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公开(公告)号：CN112114349B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201910540196.6
申请日：2019-06-21
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。
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公开(公告)号：CN115793076A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202111053839.8
申请日：2021-09-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开涉及一种辐射防护布置，包括：壳体，包括第一端口和第二端口；和托盘。托盘能够通过壳体内的通道。托盘具有第一端壁和第二端壁以及连接在第一端壁和第二端壁之间的底部，第一端壁和/或第二端壁的形状配置为与壳体的内壁配合，以便能够阻挡辐射从容纳空间经过第二端口或第一端口离开通道。还提供一种安检设备。
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公开(公告)号：CN112113986A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910539621.X
申请日：2019-06-21
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/046 , G01V5/00 , G21K1/02
摘要： 本公开涉及一种后准直器、探测器装置及扫描设备，其中，探测器装置包括：后准直器，包括相对设置的第一准直器组件(1)和第二准直器组件(1’)，第一准直器组件(1)和第二准直器组件(1’)之间形成供射线经过的通道；其中，第一准直器组件(1)和第二准直器组件(1’)均包括相互连接的多个后准块，多个后准块的连接方式和/或后准块的数量根据成像质量可选择地设置。此种结构便于通过多个后准块组合出满足测试性能要求的后准直器，不仅能够节省后准直器所用材料，减轻重量，而且组合式结构还能降低加工难度。
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